-
-
Pogrebnyakov, A.V.; Redwing, J.M.; Giencke, J.E.; Eom, C.B.; Vaithyanathan, V.; Schlom, D.G.; Soukiassian, A.; Mi, S.B.; Jia, C.L.; Chen, J.; Hu, Y.F.; Cui, Y.; Li, Q.; Xi, X.X.
(IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC; 2005)
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Bu, S.D.; Kim, D.M.; Choi, J.H.; Giencke, J.E.; Hellstrom, Eric E.; Larbalestier, David C.; Patnaik, S.; Cooley, Lance D.; Eom, C.B.; Lettieri, J.; Schlom, D.G.; Tian, W.; Pan, X.Q.
(AIP; 2)
-
Bu, S.D.; Kim, D.M.; Choi, J.H.; Giencke, J.E.; Hellstrom, Eric E.; Larbalestier, David C.; Patnaik, S.; Cooley, Lance D.; Eom, C.B.; Lettieri, J.; Schlom, D.G.; Tian, W.; Pan, X.Q.
(AMER INST PHYSICS; 2002)
-
Kim, D.M.; Eom, C.B.; Nagarajan, V.; Ouyang, J.; Ramesh, R.; Vaithyanathan, V.; Schlom, D.G.
(American Institute of Physics Inc., Melville, NY 11747-4502, United States; 2006)
-
Thompson, C.; Munkholm, A.; Streiffer, S.K.; Stephenson, G.B.; Ghosh, K.; Eastman, J.A.; Auciello, O.; Bai, G.R.; Lee, M.K.; Eom, C.B.
(AMER INST PHYSICS; 2001)